毫歐表4339B

特點(diǎn)：　

·測(cè)試信號(hào)電流低且可選擇：1μA~10mA
·測(cè)量范圍寬：10μΩ~100kΩ
·分辨率：10μΩ
·接觸檢查功能
·1kHz交流測(cè)量
·測(cè)量速度高：34ms
·內(nèi)設(shè)比較器
·自動(dòng)測(cè)量方式

在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)（1μA~10mA）。用戶目前可在低電流的條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的微小差別。1kHz測(cè)試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測(cè)試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?

　　  -  高速測(cè)量

　　高速（34ms）內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到zui低限度。

　  -  自動(dòng)測(cè)量方式

　　在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。

  -  技術(shù)指標(biāo)：

　　（全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料）

測(cè)量功能
測(cè)量參數(shù)：R（交流電阻），X（電抗），L（電感），|Z|（阻抗），θ（相位[°]）
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ（只適用于串聯(lián)模式）
數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差（以百分比表示）
顯示數(shù)字：3.4或5位（可選擇）
測(cè)試信號(hào)特性
測(cè)試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1%
測(cè)試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±（10%＋0.2μA）
樣品兩端的zui大電壓：在任何情況下zui大為20mV峰值

  -  測(cè)量范圍

　參數(shù)　　　測(cè)量范圍
　R　　　　 10μΩ~100kΩ
　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ （典型值）
　L　　　　 10nH~10H（典型值）
　θ　　　　 -180°~＋180°（典型值）
測(cè)量精度：R的基本精度為±0.4%
測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測(cè)量（EOM）信號(hào)輸出的時(shí)間間隔
模式　　時(shí)間（典型值）
短　　　34ms
中等　　70ms
長　　　900ms

  -  修正功能

短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生阻抗引的測(cè)量誤差 

-  比較功能

對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限 

-  接觸檢查功能

可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障 

-  其它功能

疊加直流：在測(cè)量端可能給出±42Vdc（zui大值）
存儲(chǔ)/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲(chǔ)/調(diào) 用
連續(xù)存儲(chǔ)功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設(shè)置將自動(dòng)被存 儲(chǔ)起來（在23±5℃時(shí)≤72小時(shí)）
HP-IB接口：所有控制設(shè)置、被測(cè)值和比較器信息
處理器接口：所有輸出信號(hào)為負(fù)邏輯，光隔離開路集電極
輸出信號(hào)包括：高/符合/低、變址，測(cè)量結(jié)束和告警。輸入信號(hào)是健鎖定和外觸發(fā) 

-   一般指標(biāo)
電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax
工作溫度：0°~45℃
尺寸：320mm（寬）×100mm（高）×300mm（長）
重量：4.5kg